Tipsa dina vänner om produkten:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1:a utgåva
Pradeep Lall
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
Finns även som:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1:a utgåva
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 24 april 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Utgivare | Taylor & Francis Inc |
| Antal sidor | 328 |
| Mått | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Språk | Engelska |
Se alt med Pradeep Lall ( t.ex. Pocketbok och Inbunden Bok )