Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE) - Singh - Böcker - SPIE Press - 9780819431516 - 30 juni 1999
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)

Singh

Logga in för att få ett meddelande när artikeln är tillgänglig igen
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)

1052 pages, illustrations

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 30 juni 1999
ISBN13 9780819431516
Utgivare SPIE Press
Antal sidor 1052
Mått 1,74 kg   (Estimerad vikt)
Visa alla

Fler produkter med Singh

Se alt med Singh ( t.ex. Bok , Inbunden Bok och Pocketbok )