Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - Yervant Zorian - Böcker - Kluwer Academic Publishers - 9780792399209 - 31 maj 1997
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

Pris
SEK 1.429

Beställningsvara

Förväntad leverans 17 - 26 dec
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 maj 1997
ISBN13 9780792399209
Utgivare Kluwer Academic Publishers
Antal sidor 167
Mått 203 × 254 × 11 mm   ·   535 g
Språk Engelska  
Redaktör Zorian, Yervant