Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Böcker - Cambridge University Press - 9780521482660 - 23 maj 1996
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

Pris
SEK 1.769

Beställningsvara

Förväntad leverans 29 jul - 8 aug
Lägg till din iMusic-önskelista

Finns även som:

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.


456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 23 maj 1996
ISBN13 9780521482660
Utgivare Cambridge University Press
Antal sidor 458
Mått 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg