Tipsa dina vänner om produkten:
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)
Pris
SEK 3.099
Beställningsvara
Förväntad leverans 6 - 17 dec
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)
Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.
368 pages, Ill.
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 2 december 1987 |
| ISBN13 | 9780471624639 |
| Utgivare | John Wiley & Sons Inc |
| Antal sidor | 368 |
| Mått | 165 × 240 × 23 mm · 610 g |