Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Böcker - Taylor & Francis Ltd - 9780415531955 - 27 juni 2014
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Applied Measurement with jMetrik 1:a utgåva

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Pris
SEK 2.629

Beställningsvara

Förväntad leverans 6 - 15 jan 2025
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
Eller

Finns även som:

Applied Measurement with jMetrik 1:a utgåva

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.


55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 27 juni 2014
ISBN13 9780415531955
Utgivare Taylor & Francis Ltd
Antal sidor 170
Mått 152 × 229 × 15 mm   ·   362 g
Språk Engelska