Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Böcker - Chapman and Hall - 9780412145612 - 31 januari 1999
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Lawrence C Wagner

Pris
HK$ 1.518,98

Beställningsvara

Förväntad leverans 14 - 23 maj

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
Eller

Finns även som:

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 januari 1999
ISBN13 9780412145612
Utgivare Chapman and Hall
Antal sidor 255
Mått 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Språk Engelska  
Redaktör Wagner, Lawrence C.

Se alt med Lawrence C Wagner ( t.ex. Inbunden Bok och Pocketbok )