Advanced VLSI Design and Testability Issues - Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata - Böcker - Taylor & Francis Ltd - 9780367492823 - 19 augusti 2020
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Advanced VLSI Design and Testability Issues 1:a utgåva

Pris
SEK 1.899

Beställningsvara

Förväntad leverans 8 - 22 okt
Få avisering om nya utgåvor med Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.


360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 19 augusti 2020
ISBN13 9780367492823
Utgivare Taylor & Francis Ltd
Antal sidor 360
Mått 241 × 162 × 27 mm   ·   718 g
Språk Engelska  
Redaktör Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Redaktör Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Redaktör Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

Mer från samma **utgivare**